Iijima Y., Fuji H., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Itoh M., Igarashi M., Hanyu S., Tobita H., Nakamura N., Kikutake R., Daibo M., Nagata M.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Sutoh Y., Itoh M., Igarashi M., Hanyu S., Kutami H., Kikutake R., Daibo M., Suzuki R.
Ключевые слова: patents, HTS, coated conductors transposed, coated conductors multifilamentary, coils, fabrication
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, fabrication, buffer layers, high rate process, microstructure
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Ключевые слова: patents, ac losses, coils pancake, coated conductors, design, power equipment
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Kato T., Hirayama T., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Miura T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, long conductors, template layers, fabrication, critical current density, critical caracteristics, length
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Kato T., Hirayama T., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Miura T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, buffer layers, IBAD process, texture, microstructure, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, buffer layers, substrate Ni, IBAD process, long conductors, texture, growth rate, fabrication, length
Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Aoki Y., Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp), Nomoto S.(s_nomoto@istec.or.jp), Sato A.
Ключевые слова: TFA-MOD process, reel-to-reel process, HTS, YBCO, coated conductors, long conductors, fabrication, growth rate, modeling, numerical analysis, new
Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp), Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S., Suzuki K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, review, fabrication
Teranishi R., Fuji H., Aoki Y., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, TFA-MOD process, long conductors, review, YBCO, critical current, thickness dependence, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Miyata S., Nakaoka K., Kitoh Y., Aoki Y.(y-aoki@istec.or.jp), Nomoto S., Matuda J.
Muroga T., Fuji H., Izumi T., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Konishi M., Machi T., Ibi A., Kitoh Y., Nakao K.(nakao@istec.or.jp), Aokia Y., Shioharaa Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, YBCO, current distribution, Hall sensor, measurement technique
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.